EPOCH 650進(jìn)口超聲波探傷儀缺陷檢測配套探頭鑄鍛鋼件、高性能、便攜式、檢測鑄件、鍛件、鋼板、金屬腐蝕、塑料探傷儀、而且性價比高。

EPOCH 650數(shù)字式超聲探傷儀將奧林巴斯先行業(yè)的常規(guī)探傷性能及儀器小巧便攜、操作直觀的特點(diǎn)融合在一起。這款探傷儀具有高效的菜單功能和快捷鍵訪問功能，為檢測人員提供了一種操作起來極為簡便的的缺陷檢測平臺。

機(jī)型設(shè)計適用于所有檢測環(huán)境

EPOCH 650型儀器可用于大多數(shù)檢測環(huán)境，其中包括實(shí)驗(yàn)室工作臺上的測試操作，以及條件惡劣、危險的戶外檢測應(yīng)用。EPOCH 650型儀器的飛梭旋鈕硬件配置符合IP66侵入保護(hù)評級的要求，瀏覽鍵區(qū)硬件配置符合IP67侵入保護(hù)評級的要求，此外，儀器還通過了極其嚴(yán)格的環(huán)境和可靠性標(biāo)準(zhǔn)的測試。操作人員在任何檢測環(huán)境中使用這款儀器，都會對儀器的操作性能及耐用性能信心十足。

主要特性

• 設(shè)計符合EN12668-1要求

• PerfectSquare可調(diào)方波脈沖發(fā)生器

• 全屏A掃描模式

• 數(shù)字式高動態(tài)范圍接收器

• 用于加強(qiáng)信噪比的30個數(shù)字式濾波器

• 2 kHz PRF，用于快速掃查

• 飛梭旋鈕或?yàn)g覽鍵區(qū)，用于調(diào)整配置

• 陽光下可讀的寬屏、全VGA顯示

• 使用電池可工作15小時以上

• 標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)DAC/TCG和機(jī)載DGS/AVG

• 多個機(jī)載報告格式

• microSD存儲卡，用于數(shù)據(jù)傳輸

• 帶有編碼B掃描的可選腐蝕模塊軟件

• USB（OTG）端口，用于與PC機(jī)通信

• 報警和VGA輸出

• 可選模擬輸出

EPOCH 650型儀器是一款輕重量、易攜帶的探傷儀，其堅(jiān)固、靈活的特點(diǎn)使其可用于幾乎所有檢測環(huán)境中。這款儀器的一些主要外觀特性如下：

寬屏、全VGA分辨率、透反顯示，無論在室內(nèi)光線還是直射的陽光下都可顯示明亮清晰的圖像。
儀器的4角處裝有橡膠二次注模保護(hù)套，起到防撞擊、抗磨損的作用。
4個拴系胸掛帶的連接點(diǎn)。
無需使用工具即可打開的電池艙和側(cè)邊的I/O蓋。
用于持續(xù)穩(wěn)固地放置儀器的支架，帶有直角彎鉤，可在0度到180度之間變換直立的角度。
儀器側(cè)面的USB OTG接口及可插拔存儲卡的接口上帶有密封的艙蓋。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)置充電鋰離子電池。
重量極輕，設(shè)計符合人體工程學(xué)，增加了儀器的便攜性和使用的方便性。
標(biāo)準(zhǔn)配置

EPOCH 650進(jìn)口超聲波探傷儀缺陷檢測配套探頭鑄鍛鋼件數(shù)字式超聲探傷儀，AC電源操作或電池操作
適配器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC，50 Hz或60 Hz）
充電鋰離子電池
儲運(yùn)箱
USB線纜
簡易入門說明書
信息全面的操作手冊（CD）
儀器的輸入/輸出
USB端口  USB（OTG）端口
RS-232端口  有
視頻輸出  標(biāo)準(zhǔn)VGA輸出
模擬輸出  1個模擬輸出（可選），可選的1 V/10 V全標(biāo)度，最大4 mA
報警輸出  3個報警輸出，5V TTL，10 mA
觸發(fā)器I/O  觸發(fā)器輸入為5V TTL；
觸發(fā)器輸出為5V TTL，最大10 mA
編碼器輸入  單軸編碼器線（正交，僅適用于腐蝕模塊模式）
環(huán)境評級
IP評級
根據(jù)IEC 60529-2004（外殼防護(hù)等級– IP規(guī)范）標(biāo)準(zhǔn)，瀏覽鍵區(qū)硬件設(shè)計符合IP67侵入保護(hù)評級標(biāo)準(zhǔn)，飛梭旋鈕硬件設(shè)計符合IP66侵入保護(hù)評級標(biāo)準(zhǔn)。

在新開發(fā)的產(chǎn)品正式投入生產(chǎn)以前，奧林巴斯要對產(chǎn)品的設(shè)計進(jìn)行內(nèi)部檢驗(yàn)。這款儀器經(jīng)測試證明符合IP評級標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛
 通過了標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中規(guī)定的爆炸性氣氛中安全操作。
防撞擊測試
 通過了標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每個軸6個循環(huán)，15 g，11 ms半弦波。
防振動測試
 通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
工作溫度 –10°C～50°C
電池存儲溫度 0°C～50°C
技術(shù)規(guī)格
一般規(guī)格
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）  236 mm x 167 mm x 70 mm
重量  1.6公斤，包括鋰離子電池
鍵區(qū)  英文、國際符號、日文、中文
語言  英語、西班牙語、法語、德語、日語、中文、葡萄牙語和俄語
探頭接口  BNC接口或LEMO 接口
數(shù)據(jù)存儲  機(jī)載100000個ID編碼，可插拔2 GB microSD卡（標(biāo)準(zhǔn)）
電池類型  單個鋰離子電池，可充電，標(biāo)準(zhǔn)型
電池供電時間  15小時到16小時（鋰離子）
電源要求  AC主電源：100 VAC ～ 120 VAC、200 VAC ～ 240 VAC，50 Hz ～ 60 Hz
顯示器類型  全VGA（640 x 480像素）透反彩色LCD，60 Hz更新速率
顯示屏尺寸（寬 x 高，對角線）  117 mm x 89 mm, 146 mm
脈沖發(fā)生器
脈沖發(fā)生器  可調(diào)方波
PRF  10 Hz ～ 2000 Hz，增量為10 Hz。
能量設(shè)置  100 V、200 V、300 V或400 V
脈沖寬度  25 ns ～ 5000 ns（0.1 MHz）范圍內(nèi)可調(diào)，利用PerfectSquare技術(shù)
阻尼  50、100、200、400 Ω
接收器
增益  0 dB ～ 110 dB
最大輸入信號  20 V P-P
接收器輸入阻抗  400 Ω ± 5%
接收器帶寬  0.2 MHz ～ 26.5 MHz，–3 dB
數(shù)字式濾波器設(shè)置  30個標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字式濾波器設(shè)置
7個符合EN12668-1:2010標(biāo)準(zhǔn)的濾波設(shè)置（0.2-10 MHz、2.0-21.5 MHz、8.0-26.5 MHz、0.5-4 MHz、0.2-1.2 MHz、1.5-8.5 MHz和5-15 MHz）
檢波  全波、正半波、負(fù)半波、射頻波
系統(tǒng)線性  水平：±0.5 % FSW
分辨率  0.25 % FSH，放大器精度為±1 dB
抑制  0 % ～ 80 %滿屏高，帶有可視警告
波幅測量  0 % ～ 110 %滿屏高，分辨率為0.25 %
測量速率  在所有模式下，相當(dāng)于PRF
校準(zhǔn)
自動校準(zhǔn)  聲速、零位偏移、
垂直聲束（*個底面回波，或回波到回波）、角度聲束（聲程或者深度）
檢測模式  脈沖回波、雙晶或穿透
單位  毫米、英寸或微秒
范圍  3.36 mm to 13388 mm，5,900 m/s
聲速  635 m/s to 15240 m/s
零位偏移  0 μs ～ 750 μs
顯示延遲  -59 mm to 13401 mm，鋼中縱波聲速
折射角度  0° ～ 90°，增量為0.1°。
閘門
測量閘門  ２個*獨(dú)立的閘門，用于波幅和渡越時間（TOF）測量。
閘門起點(diǎn)  在整個顯示范圍內(nèi)可變
閘門寬度  在從閘門起點(diǎn)到顯示范圍的終點(diǎn)之間的區(qū)域內(nèi)可變
閘門高度  在2 % ～ 95 %滿屏高范圍內(nèi)可變。
報警  正閾值和負(fù)閾值，最小深度（閘門1和閘門2）
測量
測量顯示位置  5個位置（手動或自動選擇）
閘門（1和2）  厚度、聲程、投射、深度、波幅、渡越時間、最小/最大深度、最小/最大波幅
回波到回波  標(biāo)準(zhǔn)閘門2到閘門1，可選界面閘門跟蹤
其它測量  DGS/AVG的上沖值（dB）、DGS/AVG的ERS（等效反射體大?。?、AWS D1.1/D1.5的A、B、C和D值定級、抑制值、回波到參考dB值。
DAC/TCG  標(biāo)準(zhǔn)
DAC點(diǎn)  多達(dá)50個點(diǎn)，110 dB動態(tài)范圍
特殊DAC模式  自定義DAC（最多6條曲線），20 % ～ 80 %視圖
曲面校正  用于角度聲束測量的標(biāo)準(zhǔn)外徑或棒材校正。
腐蝕（可選）  交叉零點(diǎn)測量算法、V聲程校正、單一回波、回波到回波，或編碼B掃描
軟件選項(xiàng)

• EP650-TEMPLATE (Q1400002)：模板存儲
• EP650-API5UE (Q1400003)：API 5UE缺陷定量
• EP650-AVERAGE (Q1400004)：波形平均
• EP650-IG (Q1400005)：界面閘門
• EP650-BEA (Q1400006)：底面回波衰減器（BEA）
• EP650-CORRSN (Q1400001)：腐蝕模塊（包含編碼B掃描）