產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-07
OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級(jí)成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。
OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀
基本特性
機(jī)載TOFD(衍射時(shí)差)功能
2個(gè)UT通道
通過墜落測(cè)試,符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
8組聲束設(shè)置
與現(xiàn)有掃查器和探頭相兼容
16:128PR配置或32:128PR配置
符合ISO 18563?1:2015和EN12668?1:2010
可提升效率的創(chuàng)新特性
通過全矩陣捕獲(FMC)功能可以采集到全聚焦方法(TFM)圖像(可支持64個(gè)晶片的孔徑)
4 GB的大文件容量,64 GB的內(nèi)存
精心設(shè)計(jì)的軟件,大大減少了按鍵的次數(shù)
在單一工作流程中創(chuàng)建整個(gè)掃查計(jì)劃
通過“單掃”方式,快速采集校準(zhǔn)的包絡(luò)線
1024個(gè)聚焦法則
焊縫
通過多組聲束設(shè)置視圖,核查是否可以正確覆蓋焊縫區(qū)域
波幅范圍可被擴(kuò)展到800 %,因此用戶無需再次掃查部件, 就可以對(duì)飽和的指示信號(hào)進(jìn)行表征,如:未熔合的指示信 號(hào)。
支持多探頭配置和不同的觸發(fā)方案,從而可以更好地覆蓋每 個(gè)焊縫區(qū)域
焊縫閘門可以突出顯示需要關(guān)注的區(qū)域
腐蝕
很高的采集速度,可以更方便地檢測(cè)較大的管道或容器
4 GB單個(gè)文件容量,可以減少中斷操作的次數(shù),并采集到 更多的數(shù)據(jù)
與所有腐蝕掃查器相兼容
支持雙晶線性陣列探頭,從而可獲得改進(jìn)的近表面分辨率
復(fù)合材料
高波幅范圍(800 %)和16比特?cái)?shù)字轉(zhuǎn)換器可以在檢測(cè)衰減 性較強(qiáng)的材料時(shí),獲得更寬泛的動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍
TCG動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)65 dB,且提供經(jīng)過改進(jìn)的TCG表格視 圖,以對(duì)各個(gè)點(diǎn)進(jìn)行手動(dòng)編輯
12 kHz的掃查速度,可以在較大的掃查區(qū)域中快速采集數(shù)據(jù)
對(duì)很寬的脈沖寬度進(jìn)行控制,以優(yōu)化對(duì)低頻探頭的使用
OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀除了繼承以往系列儀器可靠、便利、防水、防塵等優(yōu)點(diǎn)外,在圖像質(zhì)量方面取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步。針對(duì)形狀復(fù)雜工件的檢測(cè)難點(diǎn),OmniScan X3通過使用64晶片孔徑支持的全聚焦方式(TFM),讓用戶可以獲得工件各部分更清晰的圖像,并可以將這些進(jìn)行圖像融合,生成正確反映工件的幾何形狀,使得用戶可以對(duì)使用常規(guī)相控陣技術(shù)獲得的缺陷特性進(jìn)行驗(yàn)證,有效改進(jìn)了以前對(duì)于缺陷圖像“解讀難”的問題。TFM重建模式大像素為1024×1024,可以同時(shí)動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)4個(gè)TFM視圖。新加入的16比特A掃描、插值和平滑等功能以及10.6英寸的WXGA顯示屏,都使圖像更加清晰可見,使得檢測(cè)人員的工作更加直觀、準(zhǔn)確。